6362C光譜分析儀-中電科羞羞影院科技股（gǔ）份有（yǒu）限公（gōng）司

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光譜（pǔ）測試

6362C光譜分（fèn）析儀
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產品綜述

6362C是一款高（gāo）分辨、大動態（tài）高速高性能光譜分析（xī）儀（yí），適用於350nm～1200nm光譜範圍的DWDM等（děng）光係統測試；LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件測試；光纖等光無源器件（jiàn）測試（shì）。

功能特點

主要特（tè）點

20pm最小光譜分辨率
350nm～1200nm光譜掃描範圍
60dB大（dà）動態範圍
支持空間（jiān）光（guāng）輸入
強大的多應用光譜數據分析功能
12.1英（yīng）寸觸控顯示（shì）、全中文操作
20pm最小分辨率

6362C光譜分析儀支持不同光譜分辨率的設置，多種光譜分辨率設置靈活切換，最小光譜分辨率優（yōu）於20pm。
峰值檢索

6362C光譜分析儀采（cǎi）用擁有自主知識產權的（de）光譜自適應峰值檢索算法，峰值檢索準確度高，自適應性和（hé）魯（lǔ）棒性強，且運算速度快。
單縱模激光光譜分析（xī）

6362C光（guāng）譜分析儀具備多場景光譜分析功能，針對DFB-LD等單縱模激光光源，儀器提供閾值（zhí）分析和（hé）邊模抑製比分析兩種（zhǒng）分析方法，有效準確的評估單縱模待測光（guāng）源的中心（xīn）波長（zhǎng）、光譜帶寬和邊（biān）模抑製比。
多縱（zòng）模激光光譜分析

針對FP-LD等多縱模激光光源，6362C光譜分析儀提供ndB損耗分析、包絡分析和（hé）均方根分析三種分析（xī）方法，多維度全麵評估多縱模待測光源的中心波長和光譜帶寬。
ndB損耗法測試中心波長和光譜帶寬
包絡分析（xī）法測試中心波長和光譜帶寬
均方根（gēn）分（fèn）析法測試中心波（bō）長和光譜帶寬
多種光電子器件應用分析功能

6362C光譜分析儀可以對（duì）LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類型激（jī）光器進行一鍵測試與分析，實現所（suǒ）有測試項目批處理。儀器還集成了光纖偏振模色（sè）散測量應用、波（bō）分複用應用等光譜應用功能。