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高速光器件測試
6433P光波元件分析儀
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技（jì）術文檔
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配（pèi）置選件
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獲取報價
調製頻率範圍覆蓋： 10MHz~110GHz
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產（chǎn）品綜（zōng）述
6433P光波元件分析（xī）儀是麵向高速電光器（qì）件、光電器件及（jí）光（guāng）光器件調製特性測試的（de）儀器，頻率範圍（wéi）覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試（shì）、電光測試、光電測試及光（guāng）光測試4種測試模（mó）式，具有對數/線（xiàn）性幅度、相（xiàng）位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確（què）測（cè）量光電網絡的幅（fú）/相頻特性（xìng），主要應用於高速電光器件（電光（guāng）強度調製器、直接調製激（jī）光器、光發射（shè）組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測（cè）器芯片（piàn））及光光器（qì）件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延（yán）等頻響參數的測試。
功能特點
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主要特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同（tóng）軸覆蓋；
最小頻率分辨率1Hz；
測試功能豐富，具備（bèi）傳輸、反射等多種參數測試功能；
一體化多功（gōng）能測試（shì）界麵；
向導式校準及一鍵式（shì）快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動（dòng）夾具移除，快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控（kòng）指令集，可實現自動測（cè）試
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10MHz~110GHz 寬（kuān）頻帶同（tóng）軸覆蓋
6433P光波元件分析儀調製頻率（lǜ）最高可達（dá）110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實（shí）現高速寬頻帶光器件及光芯片調製特性測試。
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一體化多功能測試向導界麵
6433P光波元件分析儀具備（bèi）電電、電光、光電、光光（guāng）四種測量（liàng）模式，功能模式之間可（kě）任意切換，可滿足光器件（jiàn）的S參數（shù）、阻抗、時域等參數測量需（xū）求。一體化多功（gōng）能界麵方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參（cān）數的設置。
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向（xiàng）導式校準及一鍵式測試
6433P光波元件分析儀進行微波域（yù）的電電校準及光波域的光路校準時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測（cè）件準確的測試結果。同（tóng）時采用一體（tǐ）化集成設計方案，利用核心算法，實（shí）現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃（sǎo）頻（pín）測試。
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多窗口快速顯示及分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每（měi）個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快（kuài）速實現各種輸入和選擇操作，快捷高（gāo）效，便於（yú）用戶快速分析數據，為用戶提供全（quán）新的光波元件分析儀操作體驗。
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自動夾具移（yí）除，快速獲取探針數據
6433P光波元件分析儀利用自（zì）動夾具移除功能可快（kuài）速解決（jué）光芯（xīn）片S參數測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具（jù），通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數，利用信號（hào）流圖（tú）提取頻（pín）域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。
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型號 |
調製頻率範圍 |
工作波長 |
光功率測試範圍 |
動態範圍 |
對比 |
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